一区二区三区在线看丨成 人 色综合丨久久国产精品99久久久久久老狼丨色啪视频丨中字无码av电影在线观看网站丨中文天堂最新版资源www官网丨黄色日b片丨久久网免费丨成人91免费视频丨久操社区丨男女男精品视频网站丨同性女女黄h片在线播放丨成人午夜激情影院丨欧美白嫩嫩hd4kav丨亚洲日日骚丨麻豆网站丨台湾黄色网址丨狠狠色丁香婷婷综合最新地址丨又爽又黄禁片1000视频vr丨一区二区伊人久久大杳蕉丨日韩理论片在线观看丨蜜桃臀无码内射一区二区三区丨欧美肥妇多毛bbw丨av免费黄色丨九九在线观看高清免费

會議時間：2020 年 6 月 27 日 - 29 日
會議地點：上海新博覽中心

飛納電鏡展位號：E3369

飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX

隨著半導體科技的進步，電子器件早已融入到人類生活的方方面面，但隨著生活質量和生活方式不斷變化，人們對于電子器件的使用要求以及功能也提出了新的要求，使得更嚴格的品質管控勢在必行。

掃描電鏡及 EDS 能譜儀是半導體以及封裝失效分析的重要工具。在封裝缺陷和失效分析中，可以通過 SEM-EDS 對焊接或互聯界面情況進行高分辨表征，提供更高放大倍率的金屬間化合物界面、裂縫和相關缺陷的微區成像以及元素分析。

封裝缺陷

優中心樣品杯——多角度自由傾斜旋轉

多角度檢查焊接情況

IC 去層分析 (Delayer)

無論對于工藝設計，還是生產控制或者缺陷分析。去層分析是一種重要手段。

交互使用各種不同處理方式（離子蝕刻 / 化學藥液蝕刻 / 機械研磨），使芯片本身多層結構（Passivation, Metal, IDL）可一層一層去除，也就是芯片去層（Delayer）。通過層次去除（Delayer）可逐層檢視是否有缺陷，并可提供后續實驗，清楚呈現出每一層電路布線結構。